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膜厚分析儀根據(jù)測量原理一般有以下五種類型：1、磁性測厚法：適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼\鐵\銀\鎳。此種方法測量精度高2、渦流測厚法：適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量。此種方法較磁性測厚法精度低3、超聲波測厚法：目前國內(nèi)還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的，個(gè)別有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合。4、電解測厚法：此方法有別于以上三種，不屬于無損檢測，需要破壞涂鍍層。一般精度也不高，測量起來較其他幾種麻煩。膜厚分析儀的性...

RoHS環(huán)保測試儀是用晶體分光而后由探測器接收經(jīng)過衍射的特征X射線信號。如果分光晶體和探測器作同步運(yùn)動(dòng)，不斷地改變衍射角，便可獲得樣品內(nèi)各種元素所產(chǎn)生的特征X射線的波長及各個(gè)波長X射線的強(qiáng)度?？梢該?jù)此進(jìn)行定性分析和定量分析。RoHS環(huán)保測試儀的軟件設(shè)計(jì)和硬件配置性能特點(diǎn)：1、軟件設(shè)計(jì)（1）提供開放式工作曲線標(biāo)定功能，可為用戶量身定做佳的有害物質(zhì)檢測方法和控制方案；（2）采用特殊元素二次強(qiáng)度提取算法，提高了微量元素的檢出限；（3）軟件集成了同一模式多個(gè)判斷功能；（4）軟件開機(jī)自...

ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：nλ=2dsinaθ（n=1,2,3…）式中，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特征信息。使用ROHS檢測儀需要注意的事項(xiàng)有：1、表面與外殼的清潔。儀器可用...

鍍層測試儀采用電磁感應(yīng)法測量涂（鍍）層的厚度時(shí)，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測試電流或測試信號。鍍層測試儀的產(chǎn)品優(yōu)勢：1、操作簡單，只需要很少的培訓(xùn)就可以操作；2、檢測速度快，無損檢測只需...

ROHS指令元素分析儀是集光、機(jī)、電、計(jì)算機(jī)、分析技術(shù)等于一體的高新技術(shù)產(chǎn)品，具有測量范圍寬、分析結(jié)果準(zhǔn)確可靠等特點(diǎn)。由于采用了計(jì)算機(jī)技術(shù)，儀器的智能化、屏幕顯示的圖、文及數(shù)據(jù)的采集、處理等都達(dá)到了較高水平，是諸多行業(yè)測定碳、氫、氮三種元素理想的分析設(shè)備。它性能優(yōu)良、功能齊全，具有線性范圍廣，檢測下限低，分析速度快，性能穩(wěn)定，操作簡單等特點(diǎn)，能準(zhǔn)確測定煤中碳、氫、氮三種元素的質(zhì)量分?jǐn)?shù)。ROHS指令元素分析儀的日常維護(hù)主要包括：灰分管的清理、干燥管的更換、燃燒管/快速燃燒管和還...